探傷儀對(duì)缺陷方面的顯示方法「小知識(shí)」
探傷儀常用X射線探傷儀和同位素發(fā)射的γ射線,分別稱為X射線探傷和γ射線探傷。當(dāng)這些射線穿過(guò)一種物質(zhì)時(shí),該物質(zhì)的密度越大,射線的強(qiáng)度越弱,也就是說(shuō),能穿透該物質(zhì)的射線的強(qiáng)度越小。這時(shí),如果用攝影膠片來(lái)接收,膠片的感光量就會(huì)小;如果用儀器接收,得到的信號(hào)會(huì)很弱。因此當(dāng)用射線照射被探傷儀損傷的零件時(shí),如果零件中存在氣孔、夾渣等缺點(diǎn),則射線通過(guò)缺點(diǎn)路徑透射的材料密度比沒有缺點(diǎn)的材料密度小得多,其強(qiáng)度減弱較小,即透射強(qiáng)度較大,如果零件被負(fù)片接收,則感光度較大,從而可以從負(fù)片上反射出垂直于射線方向的缺點(diǎn)的平面投影。如果使用其他接收設(shè)備,也可以使用儀器來(lái)反射垂直于射線方向的缺點(diǎn)的平面投影和射線透射量。
如果超聲頻率高,傳播線性強(qiáng),在固體中容易傳播,遇到兩種不同介質(zhì)形成的界面容易反射,可以用于探傷。探頭可以向工件發(fā)射信號(hào),并能接收從界面反射的超聲波,同時(shí)將其轉(zhuǎn)換成其他信號(hào),再傳送到儀器進(jìn)行處理。根據(jù)超聲波在介質(zhì)中的傳播速度和傳播時(shí)間,可以知道缺點(diǎn)的位置。
探傷儀顯示缺陷的方式很多,有的用磁粉顯示,有的不用磁粉顯示。先對(duì)該設(shè)備有正確的了解,合理的進(jìn)行治理并且能夠正確的使用才能得出正確結(jié)論。如有其它問題,歡迎前來(lái)致電。